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• 斜入射

• 中性子反跳効果

• X線吸収微細構造

• 実成分法

• X線回折; XRD

• 中性子モノクロメーター; 中性子単色器

• 低速中性子

• 双晶面

• 散漫散乱

• ラウエ法

• 熱外中性子

• クロマティシティ

• コラム近似

• カール・ハウプトマンの不等式

• 陰極線回折

• 反射球

• フォノン散乱

• 電子線干渉計

• 分子像

• ロゼット運動

• フラックスピーキング

• 共鳴X線散乱

• スピン偏極電子源

• 実測吸収係数

• X線発生装置

• 中性子回折装置

• 多重屈折

• 双晶境界

• 差分合成

• ラウエ斑点

• 熱フィラメント

• クーリッジ管

• コンプトン・ラマン散乱

• 干渉性散乱 T kohiirento-sanran

• フリーデル則背反

• 反射曲線

• フォノン励起

• 電子線回折; 電子回折

• 分子置換法

• 連続ポテンシャル

• ハイパーチャネリング

• クライオ電子顕微鏡; 低温電子顕微鏡

• 準安定原子脱励起分光法

• 時空相関関数

• X線フィルター

• 中性子回折計

• 多重回折

• 双晶構造

• 粒子線→ryûsi-biimu

• ラングカメラ